上海2015年6月8日電 /美通社/ -- 由美國國家儀器有限公司 (National Instruments，簡稱 NI) 主辦的第十二屆“中國 PXI 技術(shù)和應(yīng)用論壇”(PXI Technology & Application Conference，即 PXI TAC) 北京站會(huì)議圓滿閉幕。在今年的 PXI TAC 會(huì)議上，NI 展示了 PXI 最新的技術(shù)發(fā)展以及應(yīng)用案例，推出了業(yè)界首款基于 PCle 第三代技術(shù)的 PXI 嵌入式控制器和高帶寬 PXI 機(jī)箱，大幅推動(dòng)了 PXI 技術(shù)的進(jìn)步和 PXI 在高性能應(yīng)用場合中的廣泛應(yīng)用。
NI 始終致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)，在本次 PXI TAC 會(huì)議上，NI 詳細(xì)介紹了基于 Intel Xeon 處理器的 NI PXIe-8880 控制器和業(yè)界首款采用第三代 PCI Express 技術(shù)的 NI PXIe-1085 機(jī)箱。NI PXI 平臺(tái)和儀器研發(fā)副總裁 Robert Canik 表示：“未來的自動(dòng)化測試和控制將會(huì)更加復(fù)雜、要求更快速度和更高品質(zhì)。在這種背景下，PXI 平臺(tái)憑借其靈活、開放的特性，加之 NI 的圖形化編程軟件 LabVIEW 的相輔相成，使其在測試測量領(lǐng)域占據(jù)絕對(duì)領(lǐng)先優(yōu)勢。全新的18槽機(jī)箱采用了第三代 PCI Express 技術(shù)，每個(gè)插槽配備8條通道，以匹配 24 GB/s 的系統(tǒng)總帶寬，從而使任何測試和測量系統(tǒng)都能夠輕松滿足未來需求。”
面對(duì)爆發(fā)式無線技術(shù)的增長，PXI 技術(shù)和應(yīng)用論壇北京站活動(dòng)還設(shè)立了射頻應(yīng)用專題討論。專題以 PXI 射頻平臺(tái)為核心，介紹了無線領(lǐng)域前沿技術(shù)與最新應(yīng)用。同時(shí)北京站還開設(shè)了動(dòng)手課程，現(xiàn)場的與會(huì)者有機(jī)會(huì)親手參與構(gòu)建基于 PXI 技術(shù)的完整自動(dòng)化測試系統(tǒng)，并完成自定義測量任務(wù)，參與者在實(shí)踐中可親身體會(huì)到 PXI 技術(shù)的優(yōu)勢與便利。除北京站以外，2015 PXI 技術(shù)和應(yīng)用論壇還將陸續(xù)在廣州、西安、上海舉行。專題討論將覆蓋射頻應(yīng)用、消費(fèi)電子、國防與航空航天、汽車電子四個(gè)專業(yè)領(lǐng)域。
今年是 PXI 技術(shù)發(fā)展的第十八個(gè)年頭。自從1997年 NI 推出業(yè)界第一款 PXI 機(jī)箱開始，NI 就一直是 PXI 技術(shù)的創(chuàng)新者和領(lǐng)導(dǎo)者，18年來 NI 一如既往地追求卓越，不斷在測試測量領(lǐng)域進(jìn)行創(chuàng)新和持續(xù)投入。在中國，伴隨著2015年 PXI TAC 在北京站的成功舉辦，PXI 技術(shù)平臺(tái)將進(jìn)一步被測試測量界的工程師所接受，PXI 技術(shù)也幫助中國的客戶成功面對(duì)了各類應(yīng)用挑戰(zhàn)。相信 NI 所提供的開放式的 PXI 平臺(tái)在未來仍將幫助工程師與科學(xué)家們加速新興應(yīng)用的實(shí)現(xiàn)。
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